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產品介紹
AFG31000 任意波函數發生器(Tektronix)
優異的指標
- 單或雙通道型號
- 接到 50Ω 負載時的輸出幅度范圍 1 mVp-p 至 10 Vp-p
- 基本 (AFG) 模式
- 25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
- 250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采樣率
- 14 位垂直分辨率
- 連續、調制、掃描與突發模式
- 各通道均具有 128 k 點的任意波形內存
- 高級模式
- 連續模式和選配序列、觸發和選通模式
- 各通道均具有 16 M 點的任意波形內存（可選 128 M 點）
- 在包含循環、調整和等待事件的序列模式下多達 256 步
- 變量采樣時鐘 1 µSa/s 至 2 GSa/s
- 最小波形長度 168 點，粒度為 1 點
將噪聲和抖動降低 10 倍
AFG31000（上波形）與上一代 AFG（下波形）的抖動
由于噪音本底較低且輸出幅度低至 1mVpp，噪音和抖動技術規格比上一代技術好 10 倍，可以確保測試的清晰度和保真度。
在線升級
由于架構基于軟件，您可以直接從網站使用滿足需求的選件升級 AFG31000。
當前可用
- 帶寬升級
- 內存大小升級
- 波形排序升級
由于架構基于軟件，您可以直接從網站使用滿足需求的選件升級 AFG31000。
當前可用
- 帶寬升級
- 內存大小升級
- 波形排序升級
| 型號 | 模擬通道 | 輸出頻率 | 記錄長度 | 采樣率 | 垂直分辨率 | 報價 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| AFG31021 |
1 |
25 MHz |
16 MSa/通道 |
250 MS/s |
14 位 |
US $2,480 配置和報價 |
| AFG31051 |
1 |
50 MHz |
16 MSa/通道 |
500 MS/s |
14 位 |
US $2,750 配置和報價 |
| AFG31022 |
2 |
25 MHz |
16 MSa/通道 |
250 MS/s |
14 位 |
US $3,780 配置和報價 |
| AFG31052 |
2 |
50 MHz |
16 MSa/通道 |
500 MS/s |
14 位 |
US $4,130 配置和報價 |
| AFG31101 |
1 |
100 MHz |
16 MSa/通道 |
1 GS/s |
14 位 |
US $4,810 配置和報價 |
| AFG31151 |
1 |
150 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $5,640 配置和報價 |
| AFG31102 |
2 |
100 MHz |
16 MSa/通道 |
1 GS/s |
14 位 |
US $6,790 配置和報價 |
| AFG31152 |
2 |
150 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $7,980 配置和報價 |
| AFG31251 |
1 |
250 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $10,800 配置和報價 |
| AFG31252 |
2 |
250 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $15,800 配置和報價 |
真實場景信號復制
傳感器廣泛用于幾乎所有現代化電子設計領域，從汽車到醫療器械再到電子消費品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進行復制以便排除故障或驗證一直是極具挑戰的過程。
- ArbBuilder 可直接導入多個泰克示波器產品系列保存的 csv 格式的波形
- 高達 128 M 點的任意內存極大地增加了信號的長度
- 低噪音本底使信號更為清晰
函數驗證和性能檢定
在產品上市前，測試工程師必須進行大量測試用例，確保產品滿足技術規格。 但是，此過程比較耗時且重復。
- 完全可編程，實現自動測試和手動測試的直觀用戶界面
- 波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序
- 靈活的重復跳轉方法保證高效率
- 高達 128 M 點的任意內存和內置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序
系統與時鐘或脈沖同步
數字設計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統中的所有設備必須與觸發信號協調，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發脈沖的有效方法。
- 脈沖/方波頻率范圍高達 160 MHz
- 頻率捷變實現時鐘不同速率的無縫切換
- 易用的向導說明指導您完成多臺設備的同步過程以便增加通道數
- 低抖動水平，讓您在觸發系統時更加自信
雙脈沖測試
雙脈沖測試是一種用于測量開關器件參數和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數、關閉參數和反向恢復參數。
執行此測試可：
- 確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產品規格書中的規格
- 確認功率器件或電源模塊的實際值或偏差
- 在各種負載條件下測量這些開關器件的參數，并在多個設備上驗證性能
高級研究和教育
研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單，模擬 Geiger-Muller 計數器的輸出，或者像一個長基帶 IQ 一樣復雜。
- InstaView™ 技術避免因連接復雜負載上增加輸出波型的不確定性
- 整合多種特性與功能
- 雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復雜波形
- 內置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形
- 上一篇：混合域示波器
